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Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR

Cód:

491_9786204031651

Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR

Editora:

KS OmniScriptum Publishing

Código:

491_9786204031651

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Sinopse
Características

I materiali semiconduttori nanostrutturati di terza generazione sono di grande interesse per le loro proprietà multifunzionali e le loro applicazioni. Le nanostrutture di ZnO sono state impiegate per varie applicazioni che vanno dallelettronica alloptoelettronica, dal rilevamento alle applicazioni biomediche e ambientali, grazie alle loro proprietà. Il presente libro si concentra sulla sintesi, caratterizzazione, applicazioni di film sottili di ZnO con il metodo mSILAR.

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